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DWL-1500XY – 2 軸精密數(shù)字平面水平儀
日本kod DWL-1500XY – 2 軸精密數(shù)字平面水平儀 購買該設(shè)備的客戶只能免費安裝一個移動應(yīng)用程序（包括序列號） 多臺設(shè)備同步 配備MEMS傳感器
更新日期：2024-03-20 訪問量：1182
DWL-1300XY – 2 軸精密數(shù)字平面水平儀
日本kod DWL-1300XY – 2 軸精密數(shù)字平面水平儀 2軸同時測量 實現(xiàn)低成本和提高工作效率 通過移動應(yīng)用程序和藍牙連接同時顯示 2 個軸
更新日期：2024-03-20 訪問量：1207
SELN-001B超小型新型 2 軸精密數(shù)字水平儀
日本SEM超小型新型 2 軸精密數(shù)字水平儀SELN-001B 您可以進行調(diào)整，就像在查看監(jiān)視器屏幕時看著氣泡水平一樣。 非常適合精密設(shè)備，半導體制造設(shè)備等的水平調(diào)節(jié)！ !!
更新日期：2024-03-20 訪問量：1315
日本shinyei吸收光譜露點水分儀TDLAS T-1系列 以分鐘和小時為單位的響應(yīng)能力已大大降低，從而可以以秒為單位進行測量。 （示例）露點環(huán)境示例 響應(yīng)時間：-50°C DP ? 0°C DP 6 秒內(nèi)（63% 響應(yīng)）
更新日期：2024-03-20 訪問量：1651
日本shinyei高露點測量系統(tǒng)HDMS-02 高露點測量系統(tǒng) HDMS-02 是一種測量系統(tǒng)產(chǎn)品，它集成了 DewStar S-3 系列鏡面冷卻露點儀，可在較寬的高溫范圍內(nèi)準確測量露點溫度。 高露點測量所需的所有功能，例如穩(wěn)定流量的采樣系統(tǒng)和防止管道結(jié)露的措施，都集成在一個包裝中，可以輕松高精度地進行高露點測量。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1469
日本shinyei高露點型鏡面冷卻露點儀DewStar S-3 系列 高露點型鏡面冷卻露點測量（鏡面冷卻露點儀、鏡面露點儀、光學露點儀） DewStar S-3 利用高達 95°C 的高精度露點測量能力來利用露點測量系統(tǒng)作為燃料電池評價系統(tǒng)的標準，在各種燒成爐的露點管理等各種電子部件的管理和耐久性試驗的標準中非常有用。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1767
日本shinyei低露點型鏡面冷卻露點儀DewStar S-2系列 鏡面冷卻露點儀（鏡面冷卻露點儀、鏡面露點儀、光學露點儀） DewStar S-2 在干燥室內(nèi)測量低露點氣體，并在工廠檢查干燥空氣管的性能。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1571
日本shinyei標準鏡面冷卻露點儀DewStar S-1 系列 鏡面冷卻露點儀（mirror-cooled dew point meter，鏡面式露點儀，光學露點儀）即主要檢測方法。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1686
日本shinyei分體式鏡面冷卻露點儀DewStar R-1 系列 DewStar 系列是被“JIS-Z-8806/濕度測量法”認定為標準濕度計的高精度、高可靠性的鏡面冷卻露點計。
更新日期：2024-03-20 訪問量：2161
日本yutaka微球外徑檢測裝置YSW-2R 我們在一家精密零件檢測設(shè)備制造商，如滾輪外徑分選機、激光分選機、CCD光學分選機等經(jīng)過10年的研發(fā)，介紹了超精密滾輪式球外徑分選機的成功技術(shù)開發(fā)和商業(yè)化。直徑分選機YSW-2R，可實現(xiàn)連續(xù)無人自動操作和99%檢查，非常適合球、錫球等球體外徑分選。
更新日期：2024-03-20 訪問量：1504
日本YAMABUN山文電氣在線激光測厚裝置NME-RM, NSM-RM PP/PS/多層/薄膜/片材的理想選擇 以非接觸方式測量厚度而非基重 座椅制造過程中的全寬測量 無需許可證、許可證或創(chuàng)建校準曲線即可輕松操作
更新日期：2024-03-20 訪問量：1327
日本YAMABUN山文電氣適用于鋼板和鋁板等的臺式測厚儀TOF-M 測量切割成條狀的鋼板和鋁板等金屬板的厚度波動 通過自動傳輸機制實現(xiàn)穩(wěn)定的測量重復性 測量數(shù)據(jù)可自動保存在個人電腦上
更新日期：2024-03-20 訪問量：1474
日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S 實現(xiàn)高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件） 不易受溫度變化的影響 可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。 反射型允許從薄膜的一側(cè)進行測量 僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）
更新日期：2024-03-20 訪問量：1281
日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2 高測量分辨率 由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。 即使表面狀況粗糙，也可以進行測量。 基重測量 操作簡單（具有自動介電常數(shù)設(shè)置功能）
更新日期：2024-03-20 訪問量：1393
日本YAMABUN山文電氣臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001 模型TOF-6R001 測量方法接觸式/線性規(guī) 測量對象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學薄膜等） 測量原理線規(guī)
更新日期：2024-03-20 訪問量：1310
